描述
Dataray Beam’R2 BeamMap2
狭缝式分析仪
Dataray的扫描狭缝式光束质量分析仪能提供高分辨率，相比于相机式光束质量分析仪，其波长范围覆盖更广，结构简单易维护，但测量时间相对较长，适合用于高精度光束分析。
应用领域：
- 非常小的激光光束质量测量
- 光学组件和仪器对准
- OEM集成
- 镜头焦距测试
- 实时诊断聚焦和对准误差
- 实时设置多个组件至相同焦点
- M²测量
型号 | 参数 |
S-BMS2-CM4-DD-2300-5 | 波长范围(Si和InGaAs)：190-2300nm 狭缝平面：-5，0，+5，+20mm |
S-BMS2-CM4-DD-2500-5 | 波长范围(Si和InGaAs)：190-2500nm 狭缝平面：-5，0，+5，+20mm |
S-BMS2-CM4-DD-5 | 波长范围(Si和InGaAs)：190-1800nm 狭缝平面：-5，0，+5，+20mm |
S-BMS2-CM4-IGA-5 | 波长范围(InGaAs)：650-1800nm 狭缝平面：-5，0，+5，+20mm |
S-BMS2-CM4-SI-5 | 波长范围(Si)：190-1150nm 狭缝平面：-5，0，+5，+20mm |
S-BR2-DD | 波长范围(Si和InGaAs)：190-1800nm |
S-BR2-DD-2300 | 波长范围(Si和InGaAs)：190-2300nm |
S-BR2-DD-2500 | 波长范围(Si和InGaAs)：190-2500nm |
S-BR2-IGA | 波长范围(InGaAs)：650-1800nm |
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