Dataray M2 测量系统 光束质量分析系统

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描述

Dataray M2 测量系统

光束质量分析系统

DataRay 的 M2DU 自动 M² 平移台为大多数 DataRay 光束质量分析仪(WinCamD-IR-BB 除外)以及 Beam’R2 扫描狭缝光束分析仪提供设备和透镜安装座。DataRay 的模块化系统为用户提供了在 M² 测量方面的极大灵活性。

测量配置:基于相机或基于狭缝的系统、镜头选择、50 mm或 200 mm长的移动工作台。

Dataray M2 测量系统

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型号

参数

透镜

LNZ-UV-Focal Length 190-380 nm

可用的焦距:50、75、100、150、200、250、500 mm,直径为 25 或 50 mm,配有支架和垫片

LNZ-VIS-Focal Length 400-800 nm

LNZ-NIR- Focal Length 650-1050 nm

可用的焦距:50、75、100、150、200、250、500、750、1000 mm,直径为 25 或 50 mm,配有支架和垫片

LNZ-TEL- Focal Length 1050-1620 nm

相机

S-WCD-LCM4

CMOS 光束质量分析仪及配件,USB 3.0,1 英寸传感器,5.5 μm 像素

S-WCD-UCD23

CCD 系列光束质量分析仪及配件,USB 2.1,2/3 英寸传感器,6.5 μm 像素

S-WCD-UCD15

CCD 系列光束质量分析仪及配件,USB 2.1,1/1.8 英寸传感器,4.4 μm 像素

S-WCD-UCD12

CCD 光束质量分析仪及配件,USB 2.1,1/2 英寸传感器,4.65 μm 像素

S-WCD-UHR

CMOS 光束质量分析仪及配件,USB 2.1,1/2 英寸传感器,5.2 μm 像素

S-WCD-XHR

CMOS 光束质量分析仪及配件,USB 2.1,1/2 英寸传感器,3.2 μm 像素

工作台

M2DU-WCD-50

M² 线性工作台,步长 2.5 μm,行程 50 mm,适用于相机

M2DU-WCD-200

M² 线性工作台,步长 2.5 μm,行程 200 mm,适用于相机

狭缝扫描

S-BR2-

Beam’R2 扫描系统——可选 Si、IGA 或 IGA2300

S-BMS2

完整的 BeamMap2 系统——可选 Si、IGA 或外置 IGA2300,不需要工作台

工作台

M2DU-BR2

BR2 扫描系统的线性工作台

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