专谱 角分辨光谱测量系统 ProSp-RTM-UV ProSp-RTM-VIS

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描述

ProSp-RTM-UV ProSp-RTM-VIS

全角度光谱测量系统

ProSp-RTM-UV/VIS 全角度光谱测量系统,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪,通过对入射和接收两臂的角度控制,实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用,如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UVNIS 测量方式有:反射光谱测量(上反射和下反射)、透射光谱测量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量,每种测量方式都由系统自动完成,我们仅需要选择测量方式、设詈测量参数,调整样品位詈即可。系统也支持手动测量方式, 即我们可以把入射臂和接收臂,运行到任意的角度位置进行光谱测量。

全角度光谱测量系统

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应用领域:

  • 微纳光学
  • 材料学
  • 生物技术
  • 矿物分析
  • 纸币防伪
  • LED 光源
  • 液晶显示
  • 材料镀膜

 

功能描述:

  • 全角度测量:接收端 0-360°,发射端 0-270°;
  • 高角度分辨率:分辨率达 0.01°:
  • 全光谱测量:光谱范围 250-2500nm,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪;鲁
  • 不同测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种模式;
  • 自动测量模式:通过软件设置(测量模式、接收角范围、入射角范围、角度分辨率、循 环次数、积分时间等),实现不同模式的自动测量,中间不需人为干预:
  • 手动测量模式:可以任意控制样品台的入射角、接收角进行光谱测量;
  • 灵活的光源选择:自带钨灯光源和外接光源:
  • 可扩展:可以在光路中增加滤波片、偏振片、波片等不改变光路的光学器件

型号

参数

ProSp-RTM-UV

光谱范围:250-2500nm 光源:选配 光斑大小:最小1.5mm

ProSp-RTM-VIS

光谱范围:250-2500nm 内置钨灯光源:360-2500nm 光斑大小:最小1.5mm

光谱仪

USB2000+VIS-NIR-ES

350-1000nm

QEPRO-FL

350-1100nm

NIRQUEST512-2.5

900-2500nm

光源

DH-2000-BAL

 220-2500nm

HL-2000-LL

 360-2500nm

偏振片

PLine-VIS-A

400-700nm

PLine-VIS-B

 600-1100nm

PLine-VIS-NIR

 650-2000nm

PLine-NIR-A

 1050-1700nm

PLine-NIR-B

 1000-3000nm

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