Andor 紫外/近红外/SWIR光谱仪

Kymera，Shamrock，Mechelle

Andor的高用途光谱仪提供高分辨率，高通量，高模块化，易用性，从紫外到近红外和SWIR，从宏观到纳米尺度，通量低至单光子，时间分辨率低至纳秒。安多尔的摄谱仪技术是基于切尔尼-特纳或埃施勒光学设计。

Andor的光谱仪系列基于Czerny-Turner或Echelle光学设计，并提供一些列高度可配置或者专业化的平台满足客户需求。