描述
红外辐射测量系统
SPL-IR8001 红外辐射测量系统实际是一套有源热源检测台式红外热像仪，通过热成像及测温技术直观呈现热缺陷或整体温度分布，并可以进行过程监控。通过本系统，可以助力研究电路板热分析、微米级元器件检测、材料应力温升分析、材料热力性能分析、化学反应温度分析、化工工艺温度监测等。
功能特点 Features
- 实时监控，着重过程检测和记录
- 可调焦式设计，全视距清晰，见微见著
- 镜头分辨力 50 微米，热显微成像
- 专业 PC 端软件，丰富的检测报告内容
应用范围 Applications
- 电路板热分析
- 微米级元器件检测
- 材料应力温升分析
- 化学反应温度分析
- 化工工艺温度监测
典型测试数据 Typical Spectrum
性能参数 Specifications
项目 | 指标 | |
成像与光学数据 | 探测器类型 | 非制冷氧化钒 |
像素大小 | 12 μm | |
响应范围 | 8~14μm | |
红外分辨率 | 256×192pixel | |
热灵敏度 | <50mK | |
图像帧率 | 25Hz | |
焦距 | 6.8mm | |
视场角 (FOV) | 26° ×20° | |
调焦 | 可手动调焦 | |
最小对焦距离 | 3cm | |
最小像素检测尺寸 | 50μm | |
检测范围 | 支架高度范围内：1.4cm×1.05cm ~ 14cm×10.5cm | |
温度测量 | 目标温度范围 | -20° C 至 +150° C |
测量精度 | ±2° C 或 ±2% | |
测温模式 | 高低温追踪、平均温度、点线框测温，支持 15 个测温区域 | |
报警功能 | 高于阈值报警、低于阈值报警 | |
专用分析软件 | 软件平台 | PC 端，Windows 8 / Windows 10 / Windows 11，64 位系统 |
分析模式 | 在线实时测温模式，离线数据回看模式 | |
伪彩色 | 白热、黑热、红热、铁红、彩虹 | |
图像模式 | 全温渲染，冷区渲染，热区渲染、3D 热力图 | |
温度曲线 | 可生成任意温度点曲线，支持 6 个温度曲线同屏显示对比 | |
数据记录 | 可保存图像、视频、检测任务 | |
检测报告 | 自动生成，包含检测任务描述、环境参数、2D/3D 热力图、温度曲线 | |
调节支架及平台 | 相机安装及调节 | 桌面支架上下距离调节、水平旋转调整；配 1/4 三脚架螺孔 |
支架调节高度 | 距工作台面 3~30cm | |
平台材质 | 绝缘防静电 | |
可靠性 | 存储温度 | -20℃ ~+60℃ |
工作温度 | -10℃ ~+50℃ | |
湿度 | 5%~95% 无凝露 | |
联系销售（工作日8:30~17:30）
电话：13375811866
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